IM3536LCR測試儀產(chǎn)品概述 DC，4Hz~8MHz測量頻率，今后的標桿產(chǎn)品 ● 測量頻率DC，4Hz~8MHz ● 測量時(shí)間：較快1ms ● 基本精度：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測量 ● 可內部發(fā)生DC偏壓測量 ● 從研發(fā)到生產(chǎn)線(xiàn)活躍在各種領(lǐng)域中
IM3533LCR測試儀產(chǎn)品概述 應用于生產(chǎn)線(xiàn)和自動(dòng)化測試領(lǐng)域的理想選擇 ● 基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測試。 ● 內置比較器和BIN功能 ● 2ms的快速測試時(shí)間
IM3523LCR測試儀產(chǎn)品概述 應用于生產(chǎn)線(xiàn)和自動(dòng)化測試領(lǐng)域的理想選擇 ● 基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測試。 ● 內置比較器和BIN功能 ● 2ms的快速測試時(shí)間
3511-50LCR測試儀產(chǎn)品概述 精巧，非常專(zhuān)業(yè)，5ms快速測量LCR ● 高速測量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） ● 高精度： ± 0.08% ● 內置比較器
3506-10C測試儀產(chǎn)品概述 對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ● 模擬測量時(shí)間0.6ms（1MHz）的高速測量 ● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線(xiàn)的上也能實(shí)現高反復精度 ● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時(shí)可穩定測量 ● 根據BIN的測定區分容量
3504-60C測試儀產(chǎn)品概述 封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類(lèi)等 ● 高速測量2ms ● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線(xiàn)，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實(shí)現高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
3504-50C測試儀產(chǎn)品概述 封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類(lèi)等 ● 高速測量2ms ● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線(xiàn)，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實(shí)現高速/低成本的測試
3504-40C測試儀產(chǎn)品概述 封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類(lèi)等 ● 高速測量2ms ● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線(xiàn)，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實(shí)現高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
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